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本文標題："微側(cè)向測井采用貼井壁測量樣品礦物分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2019-8-12 3:57:44 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
微側(cè)向測井采用貼井壁測量樣品礦物分析顯微鏡
微側(cè)向
微側(cè)向測井采用貼井壁測量。由于其電極系尺寸長，測量范圍小，所
以，其測量結(jié)果反映了井壁附近的地層情況，對裂縫的發(fā)育情況十分敏感
。
在輪南地區(qū)，灰?guī)r致密段的電阻率一般為2000f~·m以下，與灰?guī)r基層
的電性差異極大。當?shù)貙颖汇@開后，泥漿就會沿著裂縫侵入。在裂縫發(fā)育
段，電阻率出現(xiàn)低阻異常，往往表現(xiàn)為以深側(cè)向為背景的針刺狀低阻突跳
。在圖13—9中，凡是有裂縫的地方，都有十分明顯的微側(cè)向低阻異常(圖
中FMS為微電阻率掃描成果)。
(二)雙側(cè)向
雙側(cè)向的探測深度、控測范圍都比微側(cè)向大得多，使得較大體積范圍
內(nèi)地層的電性特征平均化。從宏觀上看，深、淺側(cè)向，尤其是深側(cè)向能反
映出井眼周圍較大范圍內(nèi)地層總的電性變化，表現(xiàn)為：電阻率高(可達2000
fl·m以上)、低(可低到幾十歐姆米)起伏(圖13—9)；致密段比裂縫發(fā)育電
阻率高；油氣層段大體上比水層電阻率高。
由于深、淺側(cè)向探測深度有較大差別，往往出現(xiàn)深、淺側(cè)向值的大小
不同，表現(xiàn)為電阻率的“差異”。差異又分為正差異(深側(cè)向電阻率大于淺
側(cè)向)和負差異(深側(cè)向電阻率小于淺側(cè)向電阻率)。影響雙側(cè)向差異性質(zhì)及
大小的因素較多，但主要受裂縫發(fā)育程度、裂縫角度、流體性質(zhì)因素的影
響。
1．裂縫發(fā)育程度的影響
經(jīng)驗表明，裂縫越發(fā)育的地方，雙側(cè)向的正差異一般也越大。圖13—1
0是LN4井的測井響應(BTV為井下聲波電視)。圖中裂縫發(fā)育的階段，雙側(cè)向
正差異明顯。
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