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本文標題："粗糙表面礦物斷口表面試樣分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2020-7-21 8:58:34 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
粗糙表面礦物斷口表面試樣分析顯微鏡
． 景深大，圖象立體感強，透射電鏡大10倍，較光學顯微鏡的
景深大300倍，由此適合粗糙表面的觀察，如礦物斷口表面、晶面的生
長紋、階梯等的觀察和結構分析等。(3)試樣臺可動的自由度大，試樣
可在三宴空間內作六個自由度移動，即三變空間的平移和旋轉，用來
觀察試樣各個方向；的細節(jié)十分方便。
(4)在試樣表面可得到多方面的資料，如無陰影照明性質的二次電
子象，又可獲得有陰影照明性質的背散射電子象(即成份象)，和強調
深坑部分的吸收電子象。
(5)對被測試樣的損傷和污染社度小，特別適用于生物、醫(yī)學，細
菌試樣的觀察，這是因為電子柬流小，束徑小，束能小，以及電子束
在試樣表面作光柵狀掃描，而不是固定一點照射試樣，由此對試樣的
污染和損傷小。 ·
(6)在觀察形貌的同時，又可進行試樣微區(qū)成份的點，線，面掃描
定性和定量分析，查定元素的賦有狀態(tài)等。分析體．積為數立!方微米
，相對靈敏度為0．05％左右。
(7)分辨率為50一?0埃，較透射電鏡略低。
(8)附有x射線波譜儀或X射線能譜儀都可進行試樣成·份的定性及
定量分析，但前者對試樣表面要求嚴格(平整光滑，導電性好等)，故
定量分析精度高，后者定性分析速度快，2—3分鐘內便能將試樣的成
份全SS元素分析出來
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