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本文標題："微顆粒分離電流計襯底表面樣品分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2020-7-23 13:12:32 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
微顆粒分離電流計襯底表面樣品分析顯微鏡
靜電場分離技術
靜電場分離技術的原理：將帶有微顆粒的襯底表面樣品置于平行
電極板中，加上可以調節(jié)的外電場，隨著外加電場強度的逐漸增大，
增加到一定程度時，微顆粒所受到的電場力就會克服其黏附力而脫離
襯底表面。又由于微顆粒的重力相對于黏附力來說其影響很小可以忽
略，所以可用微顆粒分離時所受到的電場力來問接衡量黏附力的大小
。
靜電場分離技術的測試裝置。微顆粒分離的情況采用電流計來監(jiān)
測，在兩平行電極之間加上直流電壓，且可以不斷地以某一個設定的
電壓增加速率而增加，在兩平行電極板問就會產生一逐漸增加的靜電
場；樣品襯底表面分散有微顆粒，放置在下電極板上，隨著電』茬的
增大，微顆粒所受的靜電力不斷增大，當其增大到一定程度時就會開
始脫離下極板而乜向上極板；而隨著微顆粒不斷地向上極板運動就會
產生相應的電流，電流的流動情況叮以通過回路中的電流計來測量，
采用數(shù)據(jù)采集號采集電壓的輸出情況，再用信號調節(jié)器和高壓放大器
將數(shù)據(jù)采集卡上的低壓信號放大
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