動態(tài)測試來進行故障點定位時，有幾點要注意

故障分析實驗室需有客戶可采用之測試機臺。一般來講，故障分析的案件大部分皆是DC failure，只要有probe station與針座就可提供此服務，但是遇到function failure時，就需要logic或memory tester，但故障分析實驗室經營的重點畢竟還是在問題解析或物性故障現象的發(fā)掘上，跟測試相關的大型測試機臺，尤其是那種量產的測試機臺，故障分析實驗室基于使用率與成本考量，是不會愿意花大筆錢去添購這種設備，因此，要擁有此類測試機臺可能需要仰賴測試部門或測試公司的提供，或去買比較便宜的二手貨才有可能，比如LSI, P8, MOSAID, IMS或SC312等等。

可用簡易的設備來達成進入function測試項的目的。如果故障的vector不是那么地複雜，可以用簡單的指令就可進入的話，我們可以試著把晶片做在PCB板(COB, Chip on Board)或放至socket上，甚至直接拿量產的module來使用，藉著電腦程式給予的信號或給偏壓的順序，來進入故障的pattern。

若是與PEM連結的測試機臺不是客戶所慣用，客戶需有能力撰寫適用于此機型的測試程式。

做PEM亮點觀察時所需要用的故障測試項可以以較簡單或較方便的測試項來代替，只要替代的測試項和原有的測試項的電性意義是一樣，可以反映出缺陷所造成的現象即可，不一定要執(zhí)著于修改較複雜的原程式。

即使是利用原程式來抓PEM亮點，原程式仍需修改以使程式跑到故障vector后，stuck在此pattern。

量產產品中，造成function fail的故障原因，又可照出亮點者，大部分是前制程漏電(leakage)所造成，且亮點即為缺陷所在，極少部份則是高阻值或斷路現象，且亮點有可能不在缺陷位置上。

如果PEM旁真的無法架設測試機臺時，可以考慮使用可攜式PEM(portable PEM)，它是一個小型的Si Cooled CCD PEM，可拆卸及組裝于測試機臺上，移動方便就是它最大的優(yōu)點，至于低偵測率則是它最大的問題。

理論上，此方法也可應用在LCD技術上，但溫度的掌控與probe card探針上沾黏的有毒液晶的清洗需要小心。

盡管通常故障分析的案件是以DC failure為主，但萬一碰到了function failure而無法用一般的FA方法去解決時，思考其它的FA solutions便成為極需去做的腦力激盪，而與PEM相連結則是可行且常用的技巧之一，此法也可運用在新產品的設計debug上，也就是從亮點的產生位置來判斷電路運作是否正常。