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本文標(biāo)題："光學(xué)測量顯微鏡光學(xué)的應(yīng)用范圍非常廣泛"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-1-13 21:42:17 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
特定波長下的檢測是系統(tǒng)最終調(diào)整和品質(zhì)檢驗(yàn)的關(guān)鍵。光學(xué)的應(yīng)用范圍非常廣泛且多變,
如光刻系統(tǒng)、 DVD 和紅外成像透鏡等都需要特定波長來進(jìn)行檢測,以顯示其所需要的波長變化要求。
光學(xué)測量顯微鏡公司,作 為世界聞名的干涉儀測量先進(jìn)代表,已經(jīng)生產(chǎn)并銷售上千臺(tái)特殊需求的鐳射干涉儀,包括從紫外到紅外 多種波長的鐳射干涉儀。
光學(xué)測量顯微鏡不僅提供干涉儀主機(jī)的各種解決方案,還提供各種附件如透射平面、球面、調(diào)整架等以輔助各種波 長鐳射干涉儀的應(yīng)用和測試。
憑藉近四十年來獲得的干涉儀制造經(jīng)驗(yàn),光學(xué)測量顯微鏡有能力為多種多樣特定需 求的干涉測量提供完整的解決方案,如特定波長、特定口徑、特定的圖像放大、
特定的軟體分析 、特殊 的增強(qiáng)性功能、特殊裝置以及特殊的自動(dòng)控制等。光學(xué)測量顯微鏡超強(qiáng)的光學(xué)設(shè)計(jì)能力、
先進(jìn)的工藝和生產(chǎn)能力能 夠?yàn)槟囟ǖ男枰峁o可匹敵的解決方案
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