---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："三坐標(biāo)測(cè)量工具顯微鏡能夠建立三維測(cè)量影像"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-1-20 1:09:15 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
常用雷射搭配一位置靈敏光強(qiáng)偵測(cè)器之偵測(cè)方式(beam-bounce technique)。
利用原子力顯微鏡量測(cè)共聚物的電區(qū)之架設(shè)示意圖（b）鐵電共聚物之鐵電區(qū)影像
由 A.Gruverman 等人首先在 PbZrTiO3 (PZT)鐵電薄膜施加一直流電壓使其極化反轉(zhuǎn)后觀察其鐵電區(qū)影像，
同年使用壓電力顯微鏡（piezoresponse force microscope）的量測(cè)來(lái)比較 PZT 薄膜分別成長(zhǎng)在 Ru 和 Pt
上鐵電區(qū)結(jié)構(gòu)的差異[4]。之后于 1998 年研究 PZT 鐵電薄膜在〝奈米尺度〞下的
鐵電區(qū)及電區(qū)反轉(zhuǎn)（domain switching）行為在這先前的壓電力顯微鏡量測(cè)只有極化方向垂直于薄膜的分量
可被量測(cè)，稱(chēng)之為 vertical PFM；同年(1998 年)發(fā)展出可量測(cè)極化方向平行于薄膜表面的 lateral
PFM，又 2006 年 S. V. Kalinin 及 B. J. Rodriguez 量測(cè) PbTiO3 鐵電薄膜同一鐵
電區(qū)的 vertical PFM 及 lateral PFM，建立了二維鐵電區(qū)影像，并利用探針偏斜機(jī)制來(lái)建立三維鐵電區(qū)影像，稱(chēng)為 vector PFM。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠(chǎng)-專(zhuān)業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科