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本文標(biāo)題:"電子顯微鏡要在超低溫下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)-精確的測量分子"

新聞來源:未知 發(fā)布時(shí)間:2013-1-30 22:29:37 本站主頁地址:http://www.y7853.cn

原子力顯微鏡(Atomic force microscopy, AFM)來觀察分子影像。
原子力顯微鏡是以1個(gè)極其微小的金屬探針在物品表面進(jìn)行掃描,
樣品表面會和金屬探頭產(chǎn)生微小的作用力,收集作用力大小變化的訊號藉以描述物品表面的狀況。

在銅制金屬探針上黏1個(gè)更小的簡單分子作為掃描式顯微鏡的探頭,他們選用的分子是一氧化碳(carbon monoxide, CO),

一氧化碳是由1個(gè)碳原子和1個(gè)氧原子組成的小分子。由1個(gè)一氧化碳分子構(gòu)成的探頭,能準(zhǔn)確的記錄原子表面,讓科學(xué)家“看”到世上1個(gè)單分子影像。

如何精確的測量分子表面,一直都是科學(xué)家面臨最大的難題與挑戰(zhàn),測量過程中必須避免來自外在環(huán)境的種種干擾,

小小的震動都會影響影像畫面。也許你無法想像,室溫都會提供顯微鏡探針分子能量引起擾動,造成影像模糊,
最后科學(xué)家不得不在攝氏-268度的超低溫下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)

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