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本文標題："表面輪廓的工具顯微鏡-避免樣品間相對位移的機械振動？"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-3-3 19:27:10 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
表面輪廓的工具顯微鏡-避免樣品間相對位移的機械振動？
（利用探針式針尖探測表面輪廓的方法）很相似，但是 Binning 和 Rohrer
并不是利用針尖和表面實際的接觸，而是使針尖和樣品間保持數(shù)埃的微小距離，且這
個距離由兩者間的穿隧電流大小來決定。兩年后，Binnig 和 Rohrer 看到一篇 R. Young
描述場發(fā)射顯微鏡（field-emission microscope, 研究人員稱之為”topografiner”）的文
章，這種顯微鏡和 STM 在操作上的原則相似，但是它的針尖和樣品表面間的距離較
遠，因為它利用的是場發(fā)射電流，而非穿隧電流。在這篇文章中，建議利用更尖的針
尖來提升顯微鏡的解析度，并述及它在分譜學上令人期待的一些方面。因此在結合了
真空穿隧的想法后，”Scanning Tunneling Microscopy”的想法逐漸成形
開始進行 STM 研究工作的頭幾個月，Binnig 和 Rohrer 集中注意力于解決一些問
題：
• 如何避免會造成針尖和樣品間相對位移的機械振動？
>>用真空避免針尖的機械固定裝置受外在聲音和震動造成的雜訊震動
• 針尖和樣品間的力有多大？
>>在大部分情況中不構成問題
• 如何在那么微小的尺度下移動針尖？
>>利用壓電材料
• 如何避免樣品和（特別是）針尖上的強烈熱擾動？
>>選擇彈性系數(shù)小的材質制作平均截面積相對小的針（下圖為反例）
針的側面若是很寬而平的圓錐面
稱為 whiskers（腮鬍）
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