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本文標題："電子顯微鏡以及光學分析粒狀物儀器常識"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-3-4 23:59:45 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
電子顯微鏡以及光學分析粒狀物儀器常識
粒狀物之電子顯微鏡分析
總懸浮微粒(TSP)是有關(guān)空氣品質(zhì)監(jiān)測，主要項目之一。
削減粒狀污染物之污染為重要施政目標。透過加強固定污染源及移動性污染源之管制，
基于此理念，環(huán)境檢驗所近年來積極發(fā)展各種粒狀污染物的光學及電子顯微鏡鑑定以及X光微量分析技術(shù)。
粒狀污染源最嚴重的是塵土類，約佔總污染源的60～70 %。其次為車輛排放燃燒不完全之黑煙，
約佔 25%兩者合計達 90%以上。另外少量的重油燃燒粒子、鐵銹、噴漆粒子、鹽沫及各類工廠制程
排放之粒狀物等。這些已知來源之污染性粒子形態(tài)均具特殊性，
且皆可由 X光微量分析測出其化學組成。故對于鑑定未知之污染微粒及大氣中沉降微粒極有
幫助。
在十三種常見的行道樹及藤蔓類中，篩選出相思樹、木麻黃、白千層及爬墻虎等對于淨化空氣
污染有良好效果之樹種。
粒狀污染物之電子顯微鏡分析技術(shù)未來應用性甚廣，
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