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本文標(biāo)題："掃瞄式探針顯微鏡（SPM ）-材料機(jī)械性質(zhì)量測(cè)"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-3-7 23:57:32 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
掃瞄式顯微鏡（SPM ）參數(shù)
掃瞄式探針顯微鏡（SPM ）-材料機(jī)械性質(zhì)量測(cè)
荷重范圍 :1nN~ 10mN。
荷重解析度(bit) : 1nN。
荷重雜訊 : 100nN。
壓痕深度范圍 : 1 nm ~ 50μm。
壓痕深度解析度(bit) : 0.0002 nm。
壓痕深度雜訊 : 0.2nm。
荷重速率解析度(bit) : 0.1 ~ 50000μN(yùn)/sec。
Thermal drift雜訊 : < 0.05 nm/sec
本設(shè)備可提供材料機(jī)械性質(zhì)量測(cè),是研究奈米材料之機(jī) 械性質(zhì)重要量測(cè)設(shè)備之一 ∎
適用樣品:薄膜/薄片/塊材
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