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本文標(biāo)題："被廣泛使用的掃描電子顯微鏡顯微技術(shù)介紹"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-4-27 21:43:55 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM）
原子力顯微鏡的方法是由 G. Binning，C. F. Quate 和 Ch. Gerber在 1986 年所提出的。
其原理是利用針尖與樣品間的原子力作為量測的機(jī)制。
這里所謂的原子力包含了凡得瓦爾力（Van der Walls force）與排斥力（repulsive force），
其作用力的關(guān)系。而原子力顯微鏡因受樣品及操作環(huán)境限制較少，
故為目前最被廣泛使用的掃描探針顯微術(shù)。
利用光激發(fā)熒光光譜實(shí)驗(yàn)，探討在室溫下，氮化銦鎵合金濃度分佈在0 ≦ x ≦ 1之間發(fā)光位置的變化，
從0.69 eV變化至3.40eV。并由原子力顯微鏡下觀察到高銦含量的氮化銦鎵有一團(tuán)團(tuán)簇
（cluster）形成。同時(shí)在這些樣品的溫度變化光激發(fā)熒光光譜上，
發(fā)現(xiàn)其峰值能量呈現(xiàn)和低銦含量相同的 S 型變化外，半高寬也有不規(guī)則的變化。
由不同位置的微光激發(fā)熒光光譜實(shí)驗(yàn)，來檢測少數(shù)氮化銦鎵簇的
發(fā)光行為，再利用溫度變化的微光激發(fā)熒光光譜實(shí)驗(yàn)，得知氮化銦鎵簇訊號(hào)隨溫度變化趨勢和光激發(fā)熒光光譜相同
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