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本文標(biāo)題："CMOS影像感測(cè)和CCD有什么不同-測(cè)量?jī)x顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-6-1 0:09:40 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
CMOS影像感測(cè)和CCD有什么不同-測(cè)量?jī)x顯微鏡
CMOS影像感測(cè)器在最近頗受注目，其市場(chǎng)在最近三、四年來(lái)蓬勃發(fā)展，而且被預(yù)期會(huì)持續(xù)下去。其應(yīng)用早已經(jīng)滲透到以下這些產(chǎn)品，
如網(wǎng)眼、保全攝影機(jī)、數(shù)位相機(jī)、以及攝錄像機(jī)等。若跟其競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手CCD來(lái)相比的話(huà)，CMOS影像感測(cè)器具有高度的電路整合能力
因此在某些需要系統(tǒng)整合和低功率的應(yīng)用上，其佔(zhàn)有極大的優(yōu)勢(shì)。
由于人眼對(duì)于邊緣影像較為敏感，因而行處理電路的匹配問(wèn)題極度受到重視，尤其在低照度時(shí)
，行間的定態(tài)雜訊會(huì)隨著訊號(hào)一起被放大，嚴(yán)重影響成像品質(zhì)。
因此
下列幾項(xiàng)：
（a）針對(duì)CMOS影像感測(cè)器的讀取電路架構(gòu)與不匹配原因來(lái)做考察。
（b）找出電路中不匹配的主要來(lái)源，并在受限于像素間距與晶片面積的情況下，提出減緩該影響的方法。
（c）以實(shí)作晶片來(lái)驗(yàn)證模擬分析的結(jié)果，故晶片中除了原先的設(shè)計(jì)外，還包含刻意加入不匹配參數(shù)的電路。
（d）建立一套影像量測(cè)系統(tǒng)來(lái)測(cè)試晶片。
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