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由較密介質(zhì)進入較疏介質(zhì)時,會發(fā)生光反射
ATR光譜法 ATR spectrometry
對于溶解度極小的固體、薄層、纖維、填充劑、黏著劑與粉末等很難處理之樣品,
內(nèi)反射光譜法是可以被用來觀測樣品之IR光譜的一項技術(shù)。
原理
當輻射光束由較密之介質(zhì)進入較疏之介質(zhì)時,會發(fā)生反射現(xiàn)象。
當入射角增大至某一個臨界角度之后,就會發(fā)生完全反射現(xiàn)象。
事實上,無論在理論上或者實驗過程中都發(fā)生有光束穿透進入較疏之介質(zhì)中,
行進一小段距離之后再發(fā)生反射過程的一種現(xiàn)象。
穿透之深度可以由若干分之一個波長值變化到數(shù)個波長值。
實際深度與入射輻射之波長、兩種介質(zhì)之折射系數(shù)值,以及入射輻射線相對界面的角度等各項都有關(guān)。
穿透之輻射線稱為瞬息波。
較疏之介質(zhì)會吸收瞬息波,在吸收譜帶之波長處,會發(fā)生光束被調(diào)減現(xiàn)象,
而稱之為總反射值調(diào)減現(xiàn)象attenuated total reflectance(ATR) 。
除了一些差異之處以外,所得到的ATR光譜類似于傳統(tǒng)IR光譜。
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