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本文標題："精確測定細微小零部件的工具顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-7-25 22:44:32 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
精確測定細微小零部件的工具顯微鏡
繞射技術―電子和中子繞射量子力學告訴我們，基于測不準原理(Uncertainty principle)，
粒子的位置和動量兩者是是無法同時精確測定的，對于粒子位置的描述只能以一種機率的方式來表述，
描述在某個位置上找到這它的機率。在1923年德布羅意(de Broglie)提出物質波概念來描述運動中的粒子，
他提出物質波波長λ= h/p，其中p是動量，h為普朗克常數。
將運動中的粒子可以描述成一個傳遞中波包(wave packet)，既可表現出波的性質，
也描述了粒子的概念。當物質也變成波時，即便是抽象的機率波，是否也能像水波、繩波或電磁波一樣互相干涉呢？
實驗首先證實電子的波特性。第一個將中子用于固態(tài)晶體之繞射實驗則是于1945年由俄斯特．
沃倫(Ernest O.Wollan)在橡樹嶺石墨反應堆進行的。隨著科技的進步，技術的成熟，
科學家已經可以制造出波長適當的電子束和中子束，用于不同方面的研究。由于電子束以長程的庫倫作用力與物質交互作用，
強度是很容易被吸收而衰減，一般而言，電子束只能達到材料表面數層原子。利用此一特性，
電子繞射主要是用于研究表面的結晶狀態(tài)，低能電子繞射(Low-energy electron di raction,LEED)
以及反射或是反射式高能電子繞射(Re ectionhigh-energy electron diffraction,RHEED)
是表面物理研究中極為重要的工具
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