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本文標(biāo)題："金屬樣品材料顯微結(jié)構(gòu)量測(cè)工具顯微鏡廠商"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-8-5 12:17:15 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
材料顯微結(jié)構(gòu)量測(cè)工具顯微鏡廠商
由于科技的進(jìn)步，薄膜技術(shù)發(fā)展扮演了非常重要的角色。薄膜技術(shù)應(yīng)用方面，使原本三度空
間的塊體元件，縮減到二度空間的平面上，
其不僅使儀器體積大幅減少，在資訊處理與傳輸上，
因?yàn)榫嚯x縮減而增加其速度及精確度。
另外，薄膜在機(jī)械性質(zhì)應(yīng)用上，有關(guān)防蝕、耐磨耗、隔熱等方面研究是薄膜應(yīng)用上的要點(diǎn)
在薄膜材料的性質(zhì)上，系受到制程、顯微結(jié)構(gòu)、結(jié)晶方向、厚
度、雜質(zhì)以及界面等因素影響，即使相同成份，
所得到的性質(zhì)也會(huì)有些差異
近年來(lái)在晶型物質(zhì)的研究上，常使用之儀器
莫過(guò)于Ｘ光繞射儀(X-Ray Diffraction，XRD)。因?yàn)橐粋�(gè)樣品的繞射圖可以提供給我們?cè)S多相
關(guān)資料。如：利用繞射線之波形，可以決定晶粒大小、晶格扭曲、晶格應(yīng)力、晶格強(qiáng)度、決定晶
格常數(shù)、樣品成分…等
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