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本文標(biāo)題："實(shí)驗(yàn)電子顯微鏡觀察測量電極表面納米銀顆粒的尺寸"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-9-19 0:52:20 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
實(shí)驗(yàn)電子顯微鏡觀察測量電極表面納米銀顆粒的尺寸
正面電極印刷(Front side contacts)
正面電極印刷的圖案有很多種樣式，但通常為了實(shí)際考量，通常
都以簡單化設(shè)計并成對稱形式，讓其對稱主要目的是為了預(yù)防當(dāng)芯片
受到撞擊而發(fā)生破裂情形時，可讓所產(chǎn)生的電流仍然能被收集使用
。芯片正面及背面電極都是為了收集電流導(dǎo)引至外部，但因?yàn)檎?/div>
面電極將直接受太陽光照射，因此，在正面電極設(shè)計上必須考慮到電
極本身的電阻損失與光遮蔽損失的平衡，所以目前正面電極的設(shè)計與
舊有設(shè)計較不同的地方是以線寬要細(xì)、但厚度相對提高為目標(biāo)，盡可
能將電阻損失與光遮蔽損失降至最低。但是匯流電極太窄會使模組廠
在焊接導(dǎo)線時不易操作，且焊接面積較小也可能導(dǎo)致電阻增加、導(dǎo)線
與電極間附著力不足等問題。把細(xì)電極變窄可減少遮蔽，但必須注意
電阻之增加對效率是否產(chǎn)生不良影響，此外網(wǎng)印時是否容易斷線也需
要特別注意
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