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本文標(biāo)題："氧含量對鎳鐵雙層膜的微觀結(jié)構(gòu)的影響-測量顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-9-24 1:06:23 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
利用雙離子束濺鍍系統(tǒng)制備鎳鐵/鎳鐵氧化物納米交換偏壓雙層薄膜。
其中鎳鐵薄膜由Kaufman離子源直接濺鍍鎳鐵靶材，而鎳鐵氧化物薄膜由End-Hall離子源之氧氣
撞擊基材并動態(tài)氧化鎳鐵原子而得。著重氧含量對鎳鐵/鎳鐵氧化物雙層薄膜之微觀結(jié)構(gòu)、
電子結(jié)構(gòu)及交換偶合效應(yīng)之影響，并探討鎳鐵/鎳鐵氧化物雙層薄膜之室溫及低溫磁性質(zhì)。
將組裝離子束濺鍍系統(tǒng)并找出可行的制程參數(shù)，初步來了解不同制程條件與磁性的關(guān)系；
研究了解研究不同熱處理溫度、離子束能量、電流對微結(jié)構(gòu)與磁性之影響；
研究了解不同納米尺寸鎳鐵/鎳鐵氧化物雙層薄膜顯微結(jié)構(gòu)與交換偶合效應(yīng)的關(guān)系及電子結(jié)構(gòu)、
微結(jié)構(gòu)與磁性的關(guān)系；針對界面特性之研究，
將執(zhí)行原子級分辨率電子結(jié)構(gòu)相關(guān)實(shí)驗(yàn)如原子級分辨率穿透電子能量損失
能譜儀與高解析穿透式電子顯微鏡
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