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本文標(biāo)題："使用掃描式電子顯微鏡銅片和錫球間介面處的微孔洞"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-9-30 15:39:27 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
使用掃描式電子顯微鏡銅片和錫球間介面處的微孔洞
探討0度(純拉伸負(fù)載模式)、45度(混合負(fù)載模式)以及90度(純剪力負(fù)載模式)
三種不同受力模式對(duì)Sn-3.5Ag-0.5Cu無鉛焊錫接點(diǎn)試樣低周疲勞行為的影響。
試樣在相同條件下所測(cè)得的實(shí)驗(yàn)結(jié)果做比較。此外，亦利用掃描式電子顯微鏡(SEM)觀察表面裂縫與破斷面，
以了解此款無鉛焊錫接點(diǎn)之疲勞破裂機(jī)制。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，在各種位移振幅、負(fù)載模式的試驗(yàn)條件組合中，vonMises
等效應(yīng)變可以有效的將三種不同負(fù)載模式下的低周疲勞壽命做有效的統(tǒng)合。
在本實(shí)驗(yàn)中所使用臨界平面觀念為主的KBM參數(shù)以及使用vonMises等效應(yīng)變之Basquin-Coffin-Manson
方程式都能針對(duì)在不同負(fù)載模式下的低周疲勞行為做出很好的整合性描述。將接點(diǎn)試樣在0度受力模式下
和塊材在相同情形下作等效應(yīng)變-壽命曲線分析比較，發(fā)現(xiàn)在低應(yīng)變振幅下接點(diǎn)有比較好的疲勞壽命，
但在高應(yīng)變振幅下則得到相反的結(jié)果。焊點(diǎn)試樣和塊材試樣所顯示的應(yīng)力振幅下降曲線趨勢(shì)非常相近。
由SEM觀察得知，微小的裂縫起始于銅片和錫球之間介面處的某些微孔洞所在位置
。微裂縫以及微孔洞的相互連結(jié)是導(dǎo)致疲勞裂縫生成與成長(zhǎng)的??主因。而在不同負(fù)載模式下，
試樣斷裂的位置都位于銅片和錫球間的介面處，這是因?yàn)樵摻槊鏋樵嚇拥挚蛊趽p害最弱的地方
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