---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："不同植物碎片鑒別礦相工具顯微鏡-實(shí)驗(yàn)儀器"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-10-19 16:44:12 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
不同植物碎片鑒別礦相工具顯微鏡-實(shí)驗(yàn)儀器
針對(duì)反芻動(dòng)物消化過(guò)程對(duì)不同植物碎片鑒別率的影響所進(jìn)行的研究'發(fā)現(xiàn)
消化過(guò)程能夠經(jīng)由軟化植物組織表皮細(xì)胞的細(xì)胞壁并染上一些生物色素、
減少組織上毛狀結(jié)構(gòu)物數(shù)量 、及清除掉一些組織物質(zhì)而提高顯微鏡下的鑒別率 。
對(duì)于大部分的植物而言消化過(guò)程并不會(huì)影響到植物的可鑒別率 ' 而對(duì)于一些細(xì)胞壁較薄的植
種和氣孔 (stomate3) 及毛狀構(gòu)造較少的植種 ， 雖會(huì)因此降低他們的可鑒
別率 ' 然而研究顯示這樣的影響并不會(huì)嚴(yán)重影響食性植種的組成。
這也可以由許多采餵食實(shí)驗(yàn)來(lái)研究餵食比例和排遺顯微結(jié)構(gòu)分析法所得的食性
顯微鏡的分類
穿透式電子顯微鏡(transmission electron microscope，或TEM)
電子束穿透試樣，產(chǎn)生信號(hào)而成像。適于物體內(nèi)部微觀組織的觀察，
晶體結(jié)構(gòu)的測(cè)定以及生物組織的觀察。
掃瞄式探針顯微鏡(scanning probe microscope，或SPM)
利用探針在試樣表面作掃瞄動(dòng)作時(shí)，針尖與試樣間作用力或穿隧
電子束信號(hào)的變化而成像。 適于研究物體表面結(jié)構(gòu)，
例如金屬或非金屬材料的磨損面或涂層結(jié)構(gòu)
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科