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本文標(biāo)題："量測(cè)透鏡顯微影像測(cè)量?jī)x廠商-光學(xué)儀器常識(shí)"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-11-5 0:08:12 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
量測(cè)透鏡顯微影像測(cè)量?jī)x廠商-光學(xué)儀器常識(shí)
量測(cè)透鏡 MTF 的系統(tǒng)
量測(cè) MTF 的方式，可分為間接量測(cè)法與直接掃描法：
1. 間接量測(cè)法：
以一個(gè)單一空間頻率、穿透率為正弦函數(shù)的光網(wǎng)，
對(duì)透鏡成像，測(cè)量成像的明暗對(duì)比，可直接計(jì)算出
此空間頻率下的 MTF值。以其他空間頻率的光網(wǎng)再
做量測(cè),得到另一空間頻率下的 MTF值，由這些不
同空間頻率下的 MTF值,將透鏡的 MTF圖描繪出,
藉此描述光學(xué)鏡頭的品質(zhì)。
2. 直接掃描法：
以單狹縫為試樣,光源照射單狹縫對(duì)待測(cè)透鏡成
像，在成像平面,以光網(wǎng)掃描,如圖 1-6 所示；或
以光網(wǎng)為試樣,對(duì)待測(cè)透鏡成像，在成像平面以單
狹縫掃描，
光網(wǎng)的穿透函數(shù)為方波函數(shù)、面積正弦函數(shù)（Area Type）
或密度正弦函數(shù)（Density Type）。電子偵檢器所測(cè)量到的光強(qiáng)變化
波形,經(jīng)過適當(dāng)?shù)恼{(diào)整與分析，即是透鏡的 MTF圖形
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