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本文標題："晶體滑移測定圖形自動分析科研顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-12-6 23:50:52 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
晶體滑移測定圖形自動分析科研顯微鏡
雙晶滑移(twinning gliding)晶內(nèi)滑移時，晶體的一部分相對于
另一部分滑移的距離為單位晶格的非整數(shù)倍。平移滑移時角剪切應變是變化的，
而在雙晶滑移中，角剪切應變是恒定的，它的大小嚴格地為雙晶的幾何要求所決定。
雙晶滑移同樣也是位錯在晶內(nèi)滑移造成的。雙晶滑移的結果是造成了
相對位移的兩側晶體以滑移面為對稱面成鏡像對稱。
由于雙晶部分與非雙晶部分在物理性質上的不連續(xù)，
顯微鏡下可見機械雙晶紋，或稱變形雙晶、次生雙晶。
雙晶滑移也可能產(chǎn)生礦物集合的形態(tài)和結晶學優(yōu)選方位。
機械雙晶是礦物晶體變形的一種很重要的產(chǎn)物，是鑒別巖石變形
及推斷巖石變形條件的重要依據(jù)之一。
當然變形巖石中除了礦物的機械雙晶外，還有生長雙晶和退火雙晶等。
圖6-2
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