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本文標題:"使用光學顯微鏡觀察粗晶粒陶瓷材料結構特征"

新聞來源:未知 發(fā)布時間:2013-12-11 23:03:50 本站主頁地址:http://www.y7853.cn

使用光學顯微鏡觀察粗晶粒陶瓷結構

    人們通常從宏觀及性能檢測上了解這些功能瓷的功能效應及性質(zhì)。
然而利用顯微鏡可以直接看到材料內(nèi)功能過程的發(fā)生及發(fā)展。

對于鐵電功能瓷,通過電疇觀察.這些過程可更清楚地顯示出來。
熱壓燒結制備的PLZT透明鐵電瓷,由于它為單相、無氣孔、高透明度、
相變溫度接近室溫、對外場(電場或應力)非常敏感,
因此它十分方便用于進行在外場作用下內(nèi)部產(chǎn)生功能過程等的觀測,
但是普通光學顯微鏡放大倍數(shù)有限(例約400倍),觀察普通陶瓷
(晶粒尺寸較細,約為2--6μm)分辨率不夠,為此應制備粗晶粒陶瓷
(例15 - 40μm)。另外,為了消除光學干擾,試樣應磨薄至一個晶粒厚度的薄片,
這樣在偏振光透光條件下進行觀察,

可消除由于光波透過多個晶粒所引起的光折射反射,從而使得在外電場作用下,
其光性變化可清楚地顯示出來。這項工作主要利用熱壓PLZT陶瓷粗晶粒單晶粒厚度
的薄片,在電場作用下進行功能過程的觀測。另外,由于晶界區(qū)具有高應變能,
因此在發(fā)生功能過程中,它常起能源作用,為此也進行試驗和討論

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