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本文標(biāo)題："涂層試樣的制備-金相檢測(cè)用專業(yè)顯微鏡廠商"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-1-19 2:26:59 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
涂層試樣的制備-金相檢測(cè)用專業(yè)顯微鏡廠商
對(duì)于涂層厚度(包括鍍層)的測(cè)量有許多方法，有一些是無(wú)損檢測(cè)法。
金相法也有非破壞性的干涉測(cè)量法和在橫截面上測(cè)量?jī)煞N方法。
除了氧化物涂層外，應(yīng)在徐層上鍍覆一層厚度在1Oμm以上的鍍層保護(hù)。
鍍層必須能與涂層相容并能顯示顏色襯度。涂層試樣應(yīng)當(dāng)鑲嵌并制備出
一個(gè)與涂層垂直的測(cè)試面。如果用傾斜截面則必須確定其角度。
涂層試樣的制備必須保護(hù)邊緣。磨光時(shí)要使研磨方向與涂層表面呈450角，
并使硬相領(lǐng)先。下一步驟取向要與前一步成90°角
要在試樣表面的若千位置上測(cè).量并取其平均值。
若涂層厚度不均則可增加測(cè)量部位，測(cè)量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差可以表示涂層
的均勻程度.
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