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本文標(biāo)題："透射電子顯微鏡(TEM)的原理-光源的特點(diǎn)有哪些"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-1-26 1:22:55 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
透射電子顯微鏡(TEM)的原理-光源的特點(diǎn)有哪些
透射電鏡
透射電鏡(TEM)以波長(zhǎng)極小的電子束作為照明源，
用電子透鏡聚焦成像，分辨率更高，放大倍數(shù)更大，
可達(dá)10六次方 x。其成像原理主要有非晶體的質(zhì)厚襯度，
樣品的襯度取決于其質(zhì)量厚度，
不但與厚度差有關(guān)，還與樣品的原子序數(shù)差有關(guān);
晶體的衍射襯度是利用電子的衍射效應(yīng)來(lái)產(chǎn)生晶體樣品的襯度，
可以研究樣品微觀組分的形狀、大小、分布等信息，
還可以直接提供組分的晶體結(jié)構(gòu)和各組分之間的晶體學(xué)關(guān)系等，
為晶體缺陷的直接觀察創(chuàng)造了條件。
但是其樣品的制備非常困難，尤其是硬化水泥漿體樣品的
制備十分復(fù)雜;
且其使用成本比掃描電鏡更高，所以一般掃描電鏡能完成的工作，
不能一味追求高分辨率而使用透射電鏡。
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