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本文標(biāo)題："銹層光學(xué)顯微鏡觀察景深不夠需要SEM電子顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-2-6 13:23:08 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
銹層光學(xué)顯微鏡觀察景深不夠需要SEM電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡(SEM )
SEM利用掃描線圈的作用.使電子束掃查試樣表而，并與顯像管電子束的
掃描同步，用掃查過(guò)程中產(chǎn)生的各種信號(hào)來(lái)調(diào)制顯像管的光點(diǎn)亮度，從而
產(chǎn)生圖像。
因?yàn)殇P層往往是疏松空洞結(jié)構(gòu)，用光學(xué)顯微鏡觀察景深不夠，用透射電子
顯微鏡(TEM)制樣又極為困難，SEM以較高的分辨率、大景深清晰地顯示
粗糙樣品的表面形貌，觀察斷口表面微觀形態(tài)。它不僅高低、倍數(shù)連續(xù)可調(diào)，
可觀察金相組織，顯示諸如點(diǎn)蝕、應(yīng)力腐蝕的主體構(gòu)造以及氯化物、
碳化物等的分布與形狀。制作試樣較容易
通常掃描電子顯微鏡附有X射線能譜和波譜分析裝置，
可在觀察的同時(shí)快速得出該區(qū)域的化學(xué)成分。SEM-EDS可以將組織、
斷口形貌、平均成分、微區(qū)成分分析同時(shí)完成，
已成為金屬文物研究的重要手段之一。
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