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本文標題："橡膠粒子顯微結(jié)構(gòu)分析光學顯微鏡-帶軟件"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-4-9 17:16:46 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
橡膠粒子顯微結(jié)構(gòu)分析光學顯微鏡-帶軟件
光學顯微
如果橡膠粒子大到足以用光學顯微鏡觀察時，那末光學顯微法是
研究聚集態(tài)最簡單而且最便宜的方法。通常近似地測定HIPS中的粒子
尺寸時，測定的方式如下：把一小顆聚合物置于兩玻片之間，加入一
滴甲苯或其它溶劑，
在相差顯微鏡（Phase contrast microscope ）
或干涉顯微鏡中考察該溶液，、這種顯微鏡將折光指數(shù)上的些小
差別轉(zhuǎn)變?yōu)楣饷芏壬系牟町�。如需照相，應使用比較粘的和不易揮發(fā)
的溶劑。在估計膠粒尺寸時，當然應當考慮溶劑對橡膠的溶脹。這一
方法在聚合過程中監(jiān)測相分離或相轉(zhuǎn)變時最為有用。另外有一種適用
于固體聚合物的方法，則需使樣品熔化。
用溶劑法考察商品聚合物的樣品，常因Ti02等顏料或填料的存在
而復雜化。為了清楚地區(qū)別橡膠粒子和填料粒子，可以用一種偶氮染
料來使膠粒染色
透射相差顯微技術(shù)或干涉顯微技術(shù)也適于考察薄切片的結(jié)構(gòu)。切
片較適合的厚度在1-5 μm 之間，可以由普通的切片機（Sledge microtome）
獲得。
通常切片總有些卷曲，這是在切片過程中引入的扭變所致，可以
將它漂浮在熱甘油浴中使之松弛。然后把切片置于溶有K2HgI4的甘油
中以提高其折光指數(shù)。
該溶液并不腐蝕HIPS和類似的聚合物，并可把它的濃度調(diào)整到和
母體聚合物的折光指數(shù)相匹配（對PS為1.59），以使切片中的刀痕線
和其它缺陷看不出來。
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