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本文標(biāo)題："電子顯微鏡鑒定分析顯微結(jié)構(gòu)- 光學(xué)儀器價格"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-4-18 19:54:10 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
電子顯微鏡鑒定分析顯微結(jié)構(gòu)- 光學(xué)儀器價格
電子探針和電子顯微鏡
分析顯微結(jié)構(gòu)首先是鑒定所存在的相。如果化學(xué)組成和材料的“來
歷”是已知的話，那么常�？梢杂孟鄨D進行相鑒定，當(dāng)然這是間接的方
法。事實。上，相鑒定的主要方式是直接法，其中包括x 射線、電子衍
射、電解分離組成的化學(xué)分析、
適于微觀尺寸的電磁側(cè)試幾標(biāo)準(zhǔn)劃痕以及顯微硬度等等。
然而，電子探針是最好的方法
用電子探針檢定樣品，可以獲得直徑僅為一個微米區(qū)域的化學(xué)成分
和分布。比如，在對純MgO 多晶體進行電子探針
電子探針的另一個用途是它能給出元素在樣品中的分布情況。原理
與上面所述相同。所不同的是顯微光束在樣品表面掃描，而不是停留在
一點上。被測的X 射線強度相應(yīng)地被掃描在電視熒光屏上，從而形成一
個樣品化學(xué)組成的象。
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