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本文標(biāo)題："專業(yè)應(yīng)用于鑒定土壤顆粒礦物-圖像分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-4-26 19:17:27 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
專業(yè)應(yīng)用于鑒定土壤顆粒礦物-圖像分析顯微鏡
集成映象顯微學(xué)
首先用雙目鏡檢驗(yàn)，毋須作土樣的前處理。為了掃描電鏡((SEM)的檢驗(yàn)，
樣本的表面需要能夠?qū)щ�。�?yīng)用這種導(dǎo)電涂層，在真空條件下不致造成問題。
對(duì)于土壤物質(zhì)來說，附著雙涂層(例如碳和白金)是適當(dāng)?shù)模?/div>
因?yàn)橥寥辣砻嬗性S多微凹凸。
理論上說，這些檢驗(yàn)方法可放大到300000倍(x 300, 000)，但實(shí)際上，
土壤物質(zhì)放大的變幅小得多。
一般放大15000到20000倍是切合實(shí)際的。如果導(dǎo)電涂層完全，
放大倍數(shù)可接近60000。加上一個(gè)能量消散
X射線分析儀(energy dispersive X一r-ay analyser)，
可用于半定量的元素分析。
從雙目鏡檢驗(yàn)換到掃描電鏡(SEM)
時(shí)常發(fā)生一些問題。這往往是由于土壤樣本變干而斷裂，以致改變土壤的
微結(jié)構(gòu)，這些困難可采用凍干法予以克服。
采用這些技術(shù)檢驗(yàn)，特別是鑒定土壤顆粒礦物，一般是困難的，
甚至常常是不可能的。在土壤基質(zhì)中，粘粒礦物經(jīng)過改
造和混合，不用凍干法是不好研究的。對(duì)此，掃描電鏡(SEM)所可放大的
倍數(shù)不能達(dá)到檢驗(yàn)隱晶質(zhì)礦物的要求。在風(fēng)化的原生礦物中，
對(duì)新生粘粒礦物的鑒定一般是可能的。
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