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本文標題："研究泥和頁巖樣品使用哪種顯微鏡合適"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-5-1 11:53:56 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
研究泥和頁巖樣品使用哪種顯微鏡合適
用于顯微鏡下研究的樣品有兩面簡稱拋光片
采用超薄兩面拋光薄片的主要優(yōu)點是:
(1)通常認為研究泥和頁巖的有效方法是射線照相。然而，一張頁巖的
射線照相圖片并不比該巖石的一個拋光表面的宏觀照片好多少�？墒牵瑑擅�
拋光超薄片則能使我們對不同的粘土和其它細粒礦物進行光學鑒定，同時還
能對礦物之問的結構關系進行研究。
(2)可用透射光和反射光對頁巖或煤的兩面拋光超薄片作顯微鏡觀察，
這是因為薄片的大部只有一個礦物的厚度，粘土礦物不重疊，因此我們可以
采用正常的兩面拋光薄片的各種研究技術，對極細粒的巖石進行研究。
(3)煙煤薄片的厚度超過10 μm就不能透光，只有超薄的兩面拋光薄片
才能用在透射光下對煤的植物顯微組織進行研究，同時可對粘土礦物和其它
結構特征作研究鑒定。正常的兩面拋光薄片的各種研究技術也都可以用來研
究煤和頁巖的兩面拋光超薄片。
X射線熒光法在下述情況時精度偏低:
(1)當基體金屬中存在被層成分或鉸層中存在基體金屬成分時，
(2)鍍層多于二層時，
(3)當鍍層的化學成分與標定樣品成分有很大變化時。
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