---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報價)
本文標(biāo)題："電子顯微鏡的焦距較大,光學(xué)顯微鏡不能達(dá)到的"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-5-21 23:06:02 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
電子顯微鏡的焦距較大,光學(xué)顯微鏡不能達(dá)到的
原子力顯微鏡(AFM)
STM的主要局限是不能使用絕緣體底物。但是在能產(chǎn)生隧道
電流的距離上，針尖和底物的原子之間存在著引力和斥力，與底物
的導(dǎo)電和絕緣性質(zhì)無關(guān)。為了測量原子間的作用力，針尖安裝在一
個軟懸臂彈簧的末端，用干涉法或光束偏轉(zhuǎn)監(jiān)測光的偏轉(zhuǎn)。懸臂彈
簧技術(shù)是用微加工技術(shù)把硅、二氧化硅或四氧化硅經(jīng)光剖蝕后制
成的，長約100μm，厚度1μm，在一端粘上一個微小的金剛石針
尖。
AFM的效果通常不如STM好，但是聚合物的形成、絕緣體
表面上的蛋白質(zhì)吸附，陽極氧化物膜的腐蝕均可用這種辦法進(jìn)行
研究。
掃描電化學(xué)顯微鏡((SECM )
掃描電化學(xué)顯微鏡的目的是克服STM和AFM的針尖對底
物鑒別和化學(xué)組成缺少靈敏性和選擇性的缺點(diǎn)。為做到這一點(diǎn)，在
電化學(xué)電池中，把針尖和底物做為獨(dú)立的工作電極。當(dāng)然還要有輔
助電極和參比電極。針尖是金屬微電極，只是針尖是有活性的(通
常金屬線在玻璃殼內(nèi))，在含有電化學(xué)活性物質(zhì)的電解質(zhì)溶液中，
電子顯微鏡最常用的是掃描電子顯微鏡((SEM )，現(xiàn)已成為應(yīng)
用廣泛的工具，在真空條件下檢測表面形態(tài)，也用于檢側(cè)與電化學(xué)
有關(guān)的電極表面和被腐蝕的表面的形態(tài)。該儀器也能進(jìn)行化學(xué)顯
微分析。
為什么我們使用電子顯微鏡而不用光學(xué)顯微鏡去獲得形貌圖
象，
它幾乎達(dá)到原子級分辨率。另一個
原因是，在電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡交疊區(qū)域內(nèi)，電子顯微鏡的焦
距很大，這是光學(xué)顯微鏡不能達(dá)到的。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問題請聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科