---
---
---
(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
采用反射光學(xué)
顯微鏡對(duì)金屬材料相觀察分析
混沌和分形的共同特點(diǎn)是多尺度.表征多尺度可以用標(biāo)度指數(shù),
前幾章已有論述.標(biāo)度指數(shù)是表征尺度變化時(shí)系統(tǒng)的某種不變性.但
是,不同尺度下物理的狀態(tài)如何我們卻看不到,而小波變換能作到這
一點(diǎn).小波變換有兩個(gè)參數(shù):一個(gè)參數(shù)是尺度,它能把不同尺度的情
況顯示出來;另一個(gè)是時(shí)間(空間)位置,它能把每個(gè)位置上的狀況顯
示出來,哪怕該位置上的物理狀況特別小.小波就像顯微鏡一樣,放
大而使你看得清楚.
如果需要對(duì)腐蝕表面評(píng)價(jià)而又不想破壞整個(gè)試樣,掃描電
鏡/能譜(SEM/EDS)能得到有價(jià)值的信息。對(duì)大多數(shù)陶瓷來
說,測(cè)試前試樣需要鍍一層碳或金導(dǎo)電。如果同樣試樣光學(xué)反
射光顯微鏡和SEM均要用,首先使用光學(xué)顯微鏡。通常光學(xué)顯
微鏡所用試樣對(duì)SEM來說太大了,SEM所需的鍍層可能影響光
學(xué)觀測(cè)。
采用反射光學(xué)顯微鏡進(jìn)行相觀察時(shí),EDS進(jìn)行化學(xué)分析非
常有效。雖然SEM整個(gè)形貌的分辨率達(dá)到幾十納米,但EDS數(shù)
據(jù)的分辨率通常在一微米級(jí)別。EDS數(shù)據(jù)是從局部而不是整個(gè)
表面得到,導(dǎo)致EDS數(shù)據(jù)具有跳躍的特征,而不是整個(gè)形貌上觀
察的結(jié)果。盡管SEM能在粗糙表面觀察,但是EDS最好在拋光
或平整表面上進(jìn)行。SEM/EDS結(jié)合XRI)和光學(xué)顯微鏡進(jìn)行分
析是評(píng)價(jià)腐蝕非常有效的手段。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用,如有版權(quán)問題請(qǐng)聯(lián)系,禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的
顯微鏡價(jià)格