---
---
---
(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
掃描電子
顯微鏡是利用樣品吸收的電流來(lái)產(chǎn)生圖像
掃描電子顯微鏡(SEM) (亦即聚焦的電子束掃過(guò)樣品表面。而不是透射通過(guò)
樣品)的原理于1935年首先由克勞爾提出。在隨后的3年內(nèi).V.安德烈采納了
用基于時(shí)間一位置的電流產(chǎn)生和檢側(cè)來(lái)建立圖像的概念,并建成了第一臺(tái)掃
描電子顯微鏡。首臺(tái)儀器利用了兩個(gè)磁透鏡來(lái)提供樣品表面上的小電子斑點(diǎn)
。
然而.第一臺(tái)掃描電子顯微鏡是利用樣品吸收的電流來(lái)產(chǎn)生圖像。直到7年后
的1942年,RCA公司的施弗里金(Zworykin )席勒爾(Hiller)和斯里德(Sny-d
er)才使用了搜集表面發(fā)射出的電子的檢側(cè)器。這個(gè)被搜集的電子信號(hào)用來(lái)
建立與時(shí)間一位置相關(guān)的信號(hào)。這一技術(shù)是所有現(xiàn)代掃描電子顯微鏡工作的
基礎(chǔ)
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用,如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系,禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的
顯微鏡價(jià)格