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本文標(biāo)題："電子元件小孔測(cè)量用工具顯微鏡制造廠商"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-6-5 19:37:00 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
電子元件小孔測(cè)量用工具顯微鏡制造廠商
環(huán)境溫度或低溫真空烘烤16小時(shí)以上，最終形成的器件電參數(shù)變化反映了封裝
表面吸收濕氣或其他揮發(fā)性材料的征兆.當(dāng)被抽真空的器件不能接觸高溫時(shí)，便采用
環(huán)境溫度或低溢真空烘烤。
若由于許多原因，的任何一種原因而不能對(duì)器件進(jìn)行殘余氣體分析，則六封裝中
戮通的小孔能在環(huán)境溫度真空烘烤期間從封裝內(nèi)部除去潮氣和揮發(fā)性氣體。器件電
性能的改變或恢復(fù)表明封裝中存在被吸收的潮氣。
高溫真空烘烤
高溫真空烘烤(100^-200攝氏度 )最終造成的電參數(shù)變化仍然是封裝表面上存在污染
物的征兆。高溫真空烘烤能在較短處理時(shí)間內(nèi)觀察到漏電變化。
在兩種真空供烤情況下，應(yīng)將器件放在充氮?dú)獾娜萜骰蚋稍锲鲀?nèi)，直到準(zhǔn)備進(jìn)行
測(cè)試。在高溫真空烘烤的情況下，這將使器件在測(cè)試之前冷卻和穩(wěn)定而不會(huì)吸收任何
多余的潮氣。器件在真空烘烤之后，還必須極其小心，以防重新污染。
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