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本文標(biāo)題："微型電子元件測試用儀器的類型-電子檢測顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-6-6 15:16:46 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
微型電子元件測試用儀器的類型-電子檢測顯微鏡
可以采用的測試方法取決于器件的類型和損傷程
度�？赡苓M(jìn)行的測試基本上有以下三種類型:
1.使用歐姆表鑒別器件是否失效、短路和開路，進(jìn)行基本電氣特性測試。這類測試
適用于所有各類器件(使用歐姆表之前，要確定該歐姆表提供的最大電流與最大電壓)。
2.曲線描繪議測試可以用來確定二極管、晶體管以及其元件的特性。這類測試
對分立器件最有效，但也適用于pn結(jié)或晶體管能夠分離出來進(jìn)行測試的集成電路(如
果pn結(jié)顯露出來，需維持外加電壓低于0.5V以免投傷pn結(jié))。
3.可以利用自動測試設(shè)備進(jìn)行集成電路的完整電性能測試。測試設(shè)備預(yù)先經(jīng)編
程，以提供一系列電輸人(所謂測試向量)，并將輸出與記錄到的理想器件特性作比較。
元件能呈現(xiàn)的變化特性的類型可以分為以下兩類:
突發(fā)故障
短路:元件呈現(xiàn)極低的電阻
開路:元件呈現(xiàn)極高的電阻
參數(shù)故障
元件的電參數(shù)(如:泄漏，電容等等)發(fā)生重大變化，將引起使用這些元件的電
路和系統(tǒng)出現(xiàn)故障。
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