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本文標(biāo)題："應(yīng)當(dāng)用一個(gè)電燈泡與待側(cè)電容器-電路檢測(cè)顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-6-6 22:46:10 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
應(yīng)當(dāng)用一個(gè)電燈泡與待側(cè)電容器-電路檢測(cè)顯微鏡
介質(zhì)擊穿介質(zhì)擊穿可能由過(guò)壓或?qū)橘|(zhì)造成損傷的制造缺陷引起。電解電容
器制造缺陷如果有的話，那也很少能加以證明，因?yàn)樽C據(jù)在故障過(guò)程中不可避免地會(huì)
遭到破壞。介質(zhì)擊穿引起電容器兩個(gè)端子之間的電流不受控制地流動(dòng)，從而導(dǎo)致過(guò)大
的功率耗散且可能發(fā)生爆炸。識(shí)別介質(zhì)擊穿的電容器通常很容易看出，因?yàn)檫@類(lèi)故障
是典型的爆炸現(xiàn)象，用肉眼能明顯看見(jiàn)。測(cè)試可疑電容器時(shí)，要想給故障電容器加電
而不引起突發(fā)故障，應(yīng)當(dāng)用一個(gè)電燈泡與待側(cè)電容器串聯(lián)，以防止電抓能量進(jìn)人故障
電容器。采用這種方法測(cè)盤(pán)漏泄電流更加安全。
電容損失當(dāng)有電解質(zhì)損失時(shí)就會(huì)發(fā)生電容損失。當(dāng)電解電容器的密封外殼
存在泄漏時(shí)，通常便發(fā)生電解質(zhì)損失。由于正常的環(huán)境過(guò)程，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間密封便
可能出現(xiàn)泄漏。通常，某些清洗溶劑、溫度升高、振動(dòng)或制造缺陷都會(huì)加速密封性能
變壞。電解質(zhì)損失的典型結(jié)果是電容損失，等效串聯(lián)電阻增大，以及功率耗散相應(yīng)
增大。
開(kāi)路當(dāng)電容器內(nèi)部的連接端子性能變差及失效時(shí)，通常便發(fā)生開(kāi)路。電連接性
能變差的產(chǎn)生可由于腐蝕、振動(dòng)或機(jī)械應(yīng)力作用的結(jié)果，可能損傷電連接。開(kāi)路故障
的結(jié)果是電容損失。
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