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本文標(biāo)題："X光光學(xué)元件能夠?qū)τ跋褡骶_的放大-解析度高于光學(xué)鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-6-29 6:47:42 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
X光光學(xué)元件能夠?qū)τ跋褡骶_的放大-解析度高于光學(xué)鏡
X光顯微成像原理各種類型的X光顯微術(shù)都是基于光子與凝聚態(tài)物質(zhì)(軟的或
硬的)之間相互作用的不同作為期成像的機(jī)制。
兩種全景穿透式X光顯微術(shù)其取像方式都基于相同的原理：讓X光子束進(jìn)入并
穿透目標(biāo)物體后，然后由兩維探測(cè)儀器來(lái)接收穿過(guò)樣品后的X光。
兩種顯微技術(shù)唯一的差異在于其對(duì)穿透物體后(在轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光影像前)是否
對(duì)X光影像進(jìn)一步放大。如欲取得高于光學(xué)顯微技術(shù)的解析度，適當(dāng)?shù)腦光光
學(xué)元件能夠?qū)光影像作精確的放大，是唯一可行的方式。
因?yàn)闃悠返膬?nèi)部各部分對(duì)X光光子之作用不同(受到其復(fù)數(shù)折射系數(shù)的控制)
造成穿過(guò)樣品后X光在垂直光進(jìn)行方向平面的分布有所變化，分析這些變化
可了解樣品各部復(fù)數(shù)折射系數(shù)的分布進(jìn)而了解物體內(nèi)部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。從理論
上說(shuō)，復(fù)數(shù)折射系數(shù)的實(shí)數(shù)部(也就是相位)和虛數(shù)部(吸收)在這一機(jī)制中都
有作用。然而在實(shí)際情形??中，除非X光束具備高同調(diào)性，否則折射系數(shù)的
實(shí)數(shù)部的影響并不明顯。
例如標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用X射線儀的光源多半來(lái)自典型的使用高壓電子束轟擊金屬陽(yáng)極
板所產(chǎn)生，因其波長(zhǎng)范圍寬，光源尺寸大，光束發(fā)散，因而都不具備同調(diào)特
質(zhì)。
因此在標(biāo)準(zhǔn)的X光成像技術(shù)中，通常無(wú)法利用相位成像的效應(yīng)。事實(shí)上迄今
為止，所有的醫(yī)用X射線診斷儀都是根據(jù)樣品不同部位間對(duì)X射線吸收的差異
所造成的影像對(duì)比來(lái)進(jìn)行成像的。
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