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磁力
顯微鏡-多功能應(yīng)用的電子顯微分析儀器
原子力顯微鏡有接觸式、非接觸和輕敲(介于接觸與非接觸之間)三種操作
模式,接觸模式分辨率較高,但是對樣品和針尖有一定的損害。非接觸模式雖然對
樣品和針尖無損害,但分辨率較低,且難以操作。輕敲模式既不損害樣品和針尖,
分辨率又可達(dá)到接觸模式水平,廣泛用于真空、大氣和液體條件下的分析研究。由
于原子力顯微鏡不需要加偏壓,所以可以用于導(dǎo)體、半導(dǎo)體和非導(dǎo)體等所有材料。
原子力顯微鏡可以探側(cè)各種類型的力,由此衍生出了磁力顯微鏡(MFM)、電力顯
微鏡(EFM),摩擦力顯微鏡(13331)和化學(xué)力顯微鏡(CFM)等。
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