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本文標(biāo)題："致發(fā)光成像顯微技術(shù)應(yīng)用于檢測硅太陽電池"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-7-12 4:40:51 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
致發(fā)光成像顯微技術(shù)應(yīng)用于檢測硅太陽電池
電致發(fā)光成像顯微技術(shù)(ELI)和光致發(fā)光成像顯微技術(shù)(PLI)
被廣泛應(yīng)用于硅太陽電池性能優(yōu)化研究中。
例如，對擴(kuò)散長度和串聯(lián)電阻不均勻分布的測量并進(jìn)行性能優(yōu)化，
這項(xiàng)技術(shù)的原理是利用電荷棲合照相機(jī)來探側(cè)發(fā)光輻射成像。
通過給OPV器件一個恒定的反向電流，使活性層電荷載體移動
從而產(chǎn)生電流，由相機(jī)記錄下輻射復(fù)合而獲得ELI圖像。
利用525 nm綠色固態(tài)二極管照射電池，可以使活性層產(chǎn)生光子
吸收并導(dǎo)致激子的形成，從而形成輻射衰變，整個過程被照相機(jī)
記錄下來形成PLI圖像。
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