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本文標(biāo)題："隨著不同AFM顯微鏡技術(shù)的發(fā)展-表面粗糙度測(cè)試"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-7-12 4:41:05 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
隨著不同AFM顯微鏡技術(shù)的發(fā)展-表面粗糙度測(cè)試
原子力顯微技術(shù)(AFM)是建立在圖像技術(shù)基礎(chǔ)上的，主要用于表征材料的表面
形貌。
隨著不同AFM技術(shù)的發(fā)展，它能同時(shí)包含物理和化學(xué)信息，例如，導(dǎo)電一AFM，開爾
文探針顯微技術(shù)(KPFM).非接觸式掃描顯微技術(shù)(NC一SFM )等。AFM可以提供在理
想條件下的橫向及縱向人數(shù)量級(jí)分辨率.在獲得形貌的同時(shí)，八FM還可以給出相圖，這
個(gè)相圖對(duì)應(yīng)表面的物理性質(zhì)，也可以對(duì)應(yīng)化學(xué)性質(zhì)對(duì)比。但八FM技術(shù)有明顯的不足，即
受到分析范圍和非常緩慢的采集時(shí)間的限制.在()PV研究中，AFM主要用于研究如何
獲得本體異質(zhì)結(jié)活性層的最佳納米結(jié)構(gòu)(溶劑選擇、熱退火處理方法和混合比例等)，從而
提高OPV效率[5-8)0 AFM對(duì)穩(wěn)定性和衰減的研究?jī)H限于支持其他研究方法得到的
結(jié)論。
Motaung等利用AFM相圖以及表面粗糙度測(cè)試
表明其表面粗糙度的增加，以及大顆粒C60的形成)，并結(jié)合其他技術(shù)來(lái)研究熱退火處理過(guò)程
中，P3HT:嘶復(fù)合薄膜的熱降解過(guò)程�？梢园l(fā)現(xiàn)，隨著熱退火處理時(shí)間的改變，薄膜的
形貌也隨之改變，即隨著場(chǎng)過(guò)度生長(zhǎng)，使得表面粗糙程度增加，最終導(dǎo)致P31hT，C60太
陽(yáng)電池效率的降低。
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