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我們在工作中常常為了獲得必要的資料和數(shù)據(jù),必須進行單粒礦物的研究。大家都
希望用既便宜又快速的方法來作礦物鑒定,所以在現(xiàn)代化的礦物學(xué)和巖石學(xué)實臉室里,對
單粒礦物的研究已變得越來越普泊了。本章所介紹的一些方法適用于研究細小和罕見的
單礦物顆粒。同樣地,對任何樣品的細小顆粒也均適用。小顆粒單礦物的研究之所以被
廣泛采用,還因為兩面拋光薄片中,有埋在基質(zhì)里的某一礦物,如果不取出來,就不能取得
完整的礦物學(xué)數(shù)據(jù)。
研究松散的單個礦物顆粒最通常的目的有:①對某個礦物顆粒作快速準確鑒定;②
研究巳鑒定礦物甄粒的某些能反映其溫度和壓力歷史的特殊物理化學(xué)性質(zhì),或研究這種
礦物獨特的化學(xué)組成或同位素組成;③測定礦物的比重;④對某一新礦物的描述,包括所
有的物理、光學(xué)和化學(xué)性質(zhì);⑥研究能反映應(yīng)變速率很緩役的形變,或者快速沖擊效應(yīng)歷
史等方面的特征;⑦對單晶作光學(xué)和X射線研究以及在光學(xué)定向與X射線晶格參數(shù)作對
比時,都必需用單粒礦物。
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