---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："礦物截面顯微顆粒分析可以用巖石顯微鏡測(cè)量"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-8-4 20:01:32 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
礦物截面顯微顆粒分析可以用巖石顯微鏡測(cè)量
單粒礦物除了容易作光學(xué)和X射線鑒定外，其主要優(yōu)點(diǎn)
是各種研究礦物的技術(shù)，如旋轉(zhuǎn)針、X射線、離子探針、電
子探針、掃描電鏡和掃描透射電鏡等，都可用到礦物的同
一個(gè)顆粒上，這樣就可準(zhǔn)確地了解具有特定微最元素組成
的某一礦物所具有的各種性質(zhì)。
兩面拋光薄片中的礦物也可以用巖石顯微鏡、掃描電鏡、
電子探針和掃描透射電鏡來研究，但是用單粒礦物的最大優(yōu)點(diǎn)，
就在于能快速準(zhǔn)確地作出鑒定，同時(shí)能獲得比重和單晶X射線等
方面的資料。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科