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本文標(biāo)題："襯度和超微物體輪廓適合使用哪種顯微鏡觀察"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-8-9 9:26:42 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
襯度和超微物體輪廓適合使用哪種顯微鏡觀察
細(xì)小的點(diǎn)的象看起來如被不明顯的同心圓所包圍的點(diǎn)子，同
樣，一條棱邊(或其它的明亮線條源)也具有與之平行趨向的暗淡
線條(有時(shí)可能錯(cuò)誤地解釋為層狀結(jié)構(gòu)).在棱或點(diǎn)子的旁邊往往
只看到第一個(gè)強(qiáng)度極小值并在明亮的象周圍產(chǎn)生黑帶.由于傾斜
區(qū)(例如氧化物臺階)把光線反射到光學(xué)系統(tǒng)之外;由于反射表面
高度上突變所引起的偽貝克線;由于覆蓋著反射表面的高折射
系數(shù)透明層的厚度突變所引起的某種類似真貝克線的東西，以及
在氧化物和氮化物斜面上的干涉效應(yīng)等都會使圖象出現(xiàn)象框.
上述鑲帶現(xiàn)象通常只能使說明變得復(fù)雜化，尤其是在暗場觀
察而鑲帶是明亮的時(shí)候.可是，對于低襯度和超微物體，為了有一
些能見度，衍射圖象也許是需要的.以丁鐸爾效應(yīng)為基礎(chǔ)的超顯
微鏡故意利用衍射效應(yīng)以獲得比分辨極限小得多的物體可見象.
這種象跟實(shí)際物體并沒有什么相似之處，然而，可以用來估計(jì)數(shù)
量.這種顯微鏡通常用來研究膠體，但是各種改進(jìn)產(chǎn)品已經(jīng)應(yīng)用
于跟蹤硅中Si-O鏈的生長了.
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