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本文標(biāo)題："用于研究晶片、小晶體和組件用復(fù)合式金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-8-20 12:45:22 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
用于研究晶片、小晶體和組件用復(fù)合式金相顯微鏡
·在晶體管和集成電路上的溫度變化也可以采用適當(dāng)?shù)膾呙柘?/div>
統(tǒng)和檢測(cè)器以及把物體本身作為熱輻射源來產(chǎn)生“圖象”.這種圖
象或熱輪廓線在新產(chǎn)品設(shè)計(jì)工作中對(duì)于確定易出事的麻煩地點(diǎn)和
電流集中部位都是最有幫助的
最可能遇到的攝影術(shù)是顯微攝影術(shù)，即借助于一臺(tái)復(fù)合顯微
鏡攝取高放大倍數(shù)的照片.對(duì)于研究晶片、小晶體和組件來說，放
大50倍左右是非常有用的.這種放大范圍的技巧同常規(guī)的特寫
攝影術(shù)相似，由此產(chǎn)生宏觀攝影術(shù).后者并不使用組合的顯微鏡
來形成象，而如同常規(guī)攝影術(shù)那樣只依靠單只透鏡.
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