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本文標題："光學(xué)長度、位移、角度測量用圖像顯微鏡廠商"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-8-27 16:33:58 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
光學(xué)長度、位移、角度測量用圖像顯微鏡廠商
主動測量與被動測量相比，其優(yōu)點或者說必要性，在總論
中已敘述了。此處就其長度、位移、角度的主動測量方法，分
三部分敘述如下:
1.光學(xué)主動測量
2.流體主動測量
3.電學(xué)主動測量
下面分兩種情況說明:
①幾毫米以內(nèi)的小尺寸和小位移的測最，
②幾厘米以上至幾十厘米的大尺寸以及大位移的測量。
在微小尺寸和微小位移的測量中，又有兩種情況:
①測量的絕對值是表面各段微小尺寸差，②用比較法測量被測件
與標準件之差。不論是測量微小尺寸的絕對值，還是比較測量微
小長度差，量儀檢測微小長度的機能都是相同的。通常把這
種測量儀稱為比較測量儀。
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