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本文標(biāo)題："不同晶�；蚓K尺寸測量多功能金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-12-25 16:14:54 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
不同晶粒或晶塊尺寸測量多功能金相顯微鏡
樣品中的晶粒很細(xì)
關(guān)于微觀應(yīng)力的測量
由于微觀應(yīng)力的存在，使得不同晶�；蚓K的點(diǎn)陣常數(shù)將
產(chǎn)生變化。當(dāng)微觀應(yīng)力使面間距大于正常的標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，
則其反射的布拉格將略微變��；反之，當(dāng)微觀應(yīng)力使面間距
小于正常的標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，布拉格角將稍微變大，這樣一來，
微觀應(yīng)力引起了衍射線條在正常峰值左右擺動(dòng)，底片上的線
條寬化，記錄紙上的衍射峰變得不尖銳，而成了圓禿的峰，
這就是樣品上由于微觀應(yīng)力的存在而引起的線條寬化。
而當(dāng)樣品中的晶粒很細(xì)時(shí)，某一晶粒參與同一布拉格角反
射的晶面數(shù)將減少，因此當(dāng)X射線的入射角與布拉格角有微
小偏離時(shí)，由各原子面所反射的X射線合成后，也引起了衍
射線條的寬化。
透射法適用于極薄的試樣，反射法則適用于較厚的試樣，
而且兩者的晶粒只有足夠細(xì)時(shí)才能進(jìn)行測量
，如果材料的晶粒特別粗大時(shí)，則只能采用勞厄法來測定。
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