---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："損壞零件的斷口金相分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-1-10 17:18:53 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
損壞零件的斷口金相分析圖像顯微鏡
應(yīng)用電子斷口學(xué)能清楚地顯示一些與各種斷裂機(jī)制相聯(lián)系的專
門特征。但是，正如顯微組織的觀察不能被憑依為損壞分析的
唯一方法一樣，電子斷口學(xué)也并不是用于斷口形貌分析的唯一
金相手段。當(dāng)電子斷口學(xué)同宏觀觀察和光學(xué)顯微鏡觀察兩者聯(lián)
合被運(yùn)用時(shí)，效果才是最好的。
顯微組織觀察應(yīng)當(dāng)包括對(duì)損壞零件的斷口以及斷口以外其它
部位的研究。這樣能提供關(guān)于所介入的斷裂機(jī)制有價(jià)值的情報(bào)
。例如，可遍及整個(gè)零件在適當(dāng)部位上截取金相試樣并加以觀
察。觀察包含著主斷口的截面，可對(duì)此斷口上的觀察結(jié)果增添
深度值，而觀察了若干個(gè)這樣的截面之后，則對(duì)分析增添了第
三維資料。對(duì)遠(yuǎn)離主斷口處進(jìn)行細(xì)致的觀察，其一個(gè)有利點(diǎn)是
：根據(jù)處于成長(zhǎng)初期的一些較小裂縫，可對(duì)機(jī)制獲得較清晰的
認(rèn)識(shí)（因?yàn)橹鲾嗫谔幍募?xì)節(jié)極多，以致有時(shí)維以鑒別該處斷裂
事態(tài)的發(fā)展序列）。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科