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本文標(biāo)題："巖石學(xué)測量包裹體組合計量圖像顯微鏡廠商"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-1-25 12:37:43 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
巖石學(xué)測量包裹體組合計量圖像顯微鏡廠商
在作地質(zhì)解釋之前，對約十多個巖石學(xué)上有關(guān)的樣品中的每一
個樣品最少要做幾十次測量。對每種包裹體組合(如成群的，成串
的或在晶體各生長環(huán)帶上的包裹體)的密度及成分的均勻性或不均
勻性必須加以肯定，對每個孤立的包裹體也要測定。在個別成串的
包裹休中可能有相似的成分和密度，或者常常是密度有變化而成分
可能沒有變化。包裹體均勻性差可能是有頸縮現(xiàn)象，流體發(fā)生泄漏
或捕獲了不均勻(不混溶)的流體所造成。如果謹(jǐn)慎客觀地合理選
擇要測量的包裹體大約有200個數(shù)據(jù)就能確立一個模式并對結(jié)果提
供初步分析解釋的墓礎(chǔ)。在礦床研究中數(shù)據(jù)少一些也夠用了，只要
在礦床中常常具有的是單一世代的原生包裹體。
對一個切片中的所有包裹體都要先進行低溫相變的測量。因為
加熱時包裹體可能爆裂或使主礦物受到拉伸，從而改變了包裹體的
體積
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