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本文標(biāo)題："孔隙率幾何層理研究是構(gòu)造分析顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-3-16 12:43:14 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
孔隙率幾何層理研究是構(gòu)造分析顯微鏡
各種組構(gòu)要素都有平面或直線所具有的幾何性質(zhì)。層理面或
葉理面一類面狀構(gòu)造 ，照例是用“走向”（所研究面上的水
平線偏離正北方向的方位角）和“傾角”（水平面與所研究面
在垂直走向方向上測(cè)量的夾角）表示它們相對(duì)于地理軸的產(chǎn)狀
直線狀構(gòu)造，照例是用傾向（包含所研究線的垂面的走向）
和傾伏角（這個(gè)垂面的水平線與所研究線的夾角）
表示其相對(duì)于地理軸產(chǎn)狀。在組構(gòu)軸作參考座標(biāo)軸的場(chǎng)合，
構(gòu)造面和構(gòu)造線同樣是用所測(cè)量的角度表示其相對(duì)于所選組構(gòu)
軸的產(chǎn)狀。
從幾何角度看，各向異性組構(gòu)的最顯著特征是決定其各向異
性的那些要素的優(yōu)選方位。優(yōu)選方位的研究是構(gòu)造分析的本質(zhì)
。
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