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本文標(biāo)題："技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)不斷應(yīng)用到電子顯微鏡檢測(cè)中"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-3-24 11:57:47 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)不斷應(yīng)用到電子顯微鏡檢測(cè)中
技術(shù)和設(shè)備的革新不斷應(yīng)用到電子顯微鏡檢測(cè)中
。給人印象最深的是用冰凍斷裂法制備標(biāo)本，固定、
包埋和切片全可免去。就是將細(xì)胞快速冷凍，然后使
其裂開，暴露出內(nèi)部結(jié)構(gòu)。近來，掃描電子顯微鏡已
被廣泛使用，它是對(duì)不能用常規(guī)透射電鏡檢查的厚標(biāo)
本進(jìn)行表面觀察的手段。
中等分辨力（可分辨間隔50到100的物體）的掃描電鏡
是有效的；更高的分辨力現(xiàn)在正在設(shè)計(jì)，它可證明大
分子水平上的多方面的工作。高電壓電子顯微鏡是利
用1000到3000kv的電壓使電子加速，而不是常規(guī)使用
的40到100kv（1kv到1000v）。
這使電子可以穿透厚達(dá)數(shù)微米的切片，使在薄切片上
難以觀察到的四寶的幾何形狀及相互聯(lián)系變得顯而易
見。通過研究未切片的培養(yǎng)的薄細(xì)胞已經(jīng)良好的鑒別
出微管、微絲和透明質(zhì)的空間排列。一些研究者，們
希望，這種顯微鏡通過采用含有特殊液體的小室，將
開辟出用電子顯微鏡觀察火細(xì)胞的道路。
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