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樣品截面二維圖像測(cè)量
工具顯微鏡-立體成像的應(yīng)用
體視學(xué)是探索三維組織和它截面上觀察到的二維圖像之間的關(guān)系的學(xué)科
,由于這些組織一般總是在二維條件下被觀察到,因此,在討論材料的
性能與組織關(guān)系時(shí),體視學(xué)在材料科學(xué)研究中顯得十分重要,體視學(xué)已
經(jīng)常常有力而成功地用簡(jiǎn)單的關(guān)系式表現(xiàn)了二維與三維組織參數(shù)之間的
關(guān)系,但一般僅限于平均值、總的面積參數(shù),如體積積分?jǐn)?shù)和比表面積
等等,但當(dāng)涉及到測(cè)量單個(gè)圖形的參數(shù)時(shí),就遇到較大的困難,例如,
從二維測(cè)量值推導(dǎo)三維質(zhì)點(diǎn)大小的分布,不存在通用分析方法,也找不
到二維質(zhì)點(diǎn)截面的形狀參數(shù)與可能的三維對(duì)應(yīng)物之間的解析關(guān)系。
大多數(shù)顯微組織可以看成是由大量不同級(jí)別質(zhì)所構(gòu)成的,每個(gè)級(jí)別包含
一定尺寸和形狀的“單元”質(zhì)點(diǎn)。因此,現(xiàn)有模型化過(guò)程的第一階段是推
導(dǎo)出這些單元質(zhì)點(diǎn)在二維截面上的二維參量分布。首先可以這樣來(lái)做,
先將一定形狀和尺寸的質(zhì)點(diǎn)定位于計(jì)算機(jī)的三維坐標(biāo)系中;再用隨機(jī)的
直線,或隨機(jī)的平面來(lái)切割質(zhì)點(diǎn);然后分別在存貯截距長(zhǎng)度或截取面積
。隨機(jī)的切割過(guò)程反復(fù)地進(jìn)行,直到索到一個(gè)統(tǒng)計(jì)學(xué)上適當(dāng)?shù)念l率為止
,在其億地方給出切割方法的細(xì)節(jié),模型金相學(xué)截面化的正確性依靠所
取的線和面的隨機(jī)性,這是重要的。
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